隨著越來越多的LED廠家進入MiniLED領域，更小的點間距依賴新的封裝工藝來提升顯示屏的可靠性和防護性，其中COB和四合一就是一個主要的趨勢。這一趨勢在為觀眾更好的觀看體驗、提升屏的可靠性和防護性能、更加節(jié)能之外，也給行業(yè)帶來新的挑戰(zhàn)。

一方面，新工藝更新之后，傳統(tǒng)校正技術難以滿足均勻性要求。如下圖所示，COB校正后依然會存在明顯色塊。

                    COB校正前                  

COB校正后

為什么會存在這一問題？

在SMD表貼燈珠的時期, 燈的點間距較大，燈對燈的亮度干擾相對有限。另外也沒有膠體的反射干擾，這樣我們就可以采集到相對準確的亮度值。

而在MiniLED時代，點間距越來越小，燈與燈的物理位置越來越近，導致燈與燈的亮度相互串擾明顯，圖像模糊重疊等現象愈發(fā)明顯。 除此之外，新工藝中表面膠體的封裝，導致光在傳遞中二次反射影響，造成光源干擾的加劇，對采集燈珠亮色度的準確性造成了影響。

另一方面，低灰表現和高灰表現有顯著差異，低灰段不一致性問題凸顯。

為什么會存在這一問題？

低灰階效果和我們的電路設計、芯片的選型、硬件控制都有關聯；低灰系數又極易受到以上條件的輕微影響而實現不準確，導致效果變差。

PWM驅動帶來的低灰量化誤差

MiniLED校正解決方案

1. 采用科學級相機，提高測量精度。

采用符合人眼感知特性的CIE-XYZ濾片，反映人眼真實感知。

CIE-XYZ科學級相機      

     

    CIE-XYZ濾片光譜曲線

常規(guī)相機處于成本的考慮，使用簡易的Bayer濾片，Bayer濾片光譜不穩(wěn)定，還存在毛刺過渡不平滑，這會導致嚴重的光譜測量誤差。

諾瓦打造的CIE-XYZ科學級相機的關鍵就在于CIE-XYZ濾片技術。諾瓦通過多年的濾片設計創(chuàng)新，持續(xù)的迭代，推出LED測量設計的濾片標定算法，確保測量的準確性。CIE-XYZ科學級相機選用多組轉輪，多次測量，得到符合人眼特性的測量數據,使得校正后更加貼近人眼感知的畫面效果。

2. 改進校正流程，增加消除混光處理。

諾瓦對采集圖像二次處理、還原自身亮度數據，重新計數真實亮度下的校正數據。提升屏體的均勻性，使得顯示效果更加細膩，這就是MiniLED全新的混光消除技術。

3. 通過全灰階校正技術，提升灰階表現精度。

通過光槍CA-410采集灰階數據，再通過灰階修正工具計算修正系數，對各灰階進行補償，改善非線性響應，最終通過硬件編碼，在諾瓦A8s、A10s Plus接收卡上使得灰階顯示臺階問題得到優(yōu)化。

我們來看一組低灰階實拍圖，看看在全灰階校正前后的對比效果，我們會發(fā)現校正后的顯示屏畫面相較于校正前，麻點、色塊、偏色的問題均得到了顯著改善，均勻性和畫面細膩度大幅提升。

這就是諾瓦推出的MiniLED校正解決方案。通過CIE-XYZ科學級校正相機，配合貼近人眼的XYZ濾片，確保MiniLED采集的準確性。全灰階校正通過逐級灰階測量與優(yōu)化，解決灰階實現不準的難題。